粒度測試方法 |
優 點 |
缺 點 |
篩分法 |
簡單、直觀、設備造價低、常用于大于40μm的樣品 |
不能用于40μm以下的樣品,結果受人為因素和篩孔變形影響較大 |
顯微鏡(圖像)法 |
簡單、直觀、可進行形貌分析,適合分布窄(最大和最小粒徑的比值小于10:1)的樣品 |
無法分析分布范圍寬的樣品,無法分析小于1微米的樣品
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沉降法 |
操作簡便,儀器可以連續運行,價格低,準確性和重復性較好,測試范圍較大 |
測試時間較長,操作比較復雜
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庫爾特(電阻)法 |
操作簡便,可測顆??倲担刃Ц拍蠲鞔_,速度快,準確性好 |
適合分布范圍較窄的樣品
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激光衍射/散射法 |
操作簡便,測試速度快,測試范圍大,重復性和準確性好,可進行在線測量和干法測量 |
結果受分布模型影響較大,儀器造價較高
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電鏡法 |
適合測試超細顆粒甚至納米顆粒、分辨率高 |
樣品少、代表性差、儀器價格昂貴 |
超聲波法 |
可對高濃度漿料直接測量 |
分辨率較低 |
透氣法 |
儀器價格低,不用對樣品進行分散,可測磁性材料粉體 |
只能得到平均粒度值,不能測粒度分布
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