（中國粉體技術網/班建偉）近日，美國分散技術公司（DTI ）推出了新一代DT-330型電聲電振法電位分析儀，既可在原濃液環境下測量固體顆粒zeta電位，也可測量塊狀或粉狀固體孔表面電位。同時，公布了最新一代超聲法在線粒度分析儀—— DT-500型。
目前，流行的粒度測定方法是激光粒度法（小角激光散射法），但是，這種方法致命的缺點就是必須對樣品進行稀釋，并且樣品最好不帶顏色，對光的吸收不能太強。同樣，測量zeta電位的動態光散射技術也要求在極稀的分散體系中進行，并且樣品粒徑不能大于幾個微米（一旦顆粒產生定向運動——沉淀，就偏離了該方法的測量原理）。其實，基于同樣的瑞利散射原理，如果用聲波代替光波，就能夠成功地克服上述缺陷。
19世紀七八十年代，亨利、廷德爾和雷諾首次研究了與膠體相關的聲學現象--聲音在霧中的傳播。散射理論的創始人洛德·瑞利也將他的散射理論中的書命名為“聲音理論”。 他把計算方式主要運用到了聲音，而不是用在由光學的研究中。由于理論計算的復雜性, 聲學更多的依賴于數學計算而不是其他傳統的儀器分析技術。隨著計算機快速時代的到來和新理論研究方法的發展，今天很多問題已經在美國DTI公司有了清晰的答案。
享譽世界的DT-1200系列粒度和Zeta電位分析儀, 利用超聲波在含有顆粒的連續相中傳播時，聲與顆粒的相互作用產生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應來測量顆粒粒度及濃度，采用專利電聲學測量技術測量膠體體系的Zeta電位。對于高達50％（體積）濃度的樣品，無需進行樣品稀釋或前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用DT-300直接進行測量，粒度適用范圍從5nm到1mm。
DT-300超聲探頭（Zeta Probe）能直接在樣品的原始條件下測量zeta電位，允許樣品濃度高達50％（體積）。DT-300 結構設計緊湊，外置Zeta電位滴定裝置(DT-310).自動滴定裝置可自動、快速地判斷等電點，可快速得到最佳分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進行自動校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強，非常適用于科研及工廠的優化控制。
在此基礎上，DTI公司董事長Andrei Dukhin博士與美國康塔公司首席科學家Matthias Thommes博士通力合作，開創了電聲電振效應測量固體孔道內表面zeta電位的專利方法，并用于WAVE系列和DT-300型, 成就了實現兩種電位測定的DT-330型。電聲電振法理論上沒有分析限制，只要固體樣品能被某種液體浸潤即可進行分析，操作簡單。
隨著對高濃度在線粒度靈活監測的需求擴大，DTI公司開發了新一代DT-500型在線粒度分析儀，其功能和參數等同于DT-100型超聲粒度分析儀，但其樣品池采用了一次性的柔性模塊（照片上的綠色部分）。它易于安裝或取下（幾分鐘），消除了清洗過程，大大簡化維護程序, 降低了應用成本。在樣品池頂部和底部的模塊組件用于連接到各種不同的管道，可以很容易地根據現場需求進行修改。這種管路修改不會影響儀器的性能。超聲發生器和接收器之間的間隙仍然是可自動可調的，其電子控制箱和軟件與DT-100是一樣的。
該儀器已經應用于美國某制藥公司研磨在線監測，并通過了初步的滅菌工序與125℃的蒸汽考驗。
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