納米晶體具有跨越生物醫學成像、發光器件和電子消費產品的多種應用,其獨特的光學性質是由它們組成的晶體類型產生。然而,迄今為止納米晶體發展的主要瓶頸是需要X射線技術來確定晶體類型。伊利諾伊大學香檳分校的研究人員已經開發了一種新穎的方式來確定晶體類型基于光學,即通過晶體吸收光的獨特方式來鑒別。
研究人員開發的這種新方式消除了對慢速和昂貴的X射線設備的需要以及大量必須高純化的材料需求。在這項研究中,研究人員使用吸收光譜和第一原理電子結構理論,確定了II-VI納米晶體中的立方晶相和六方晶相的光學特征,研究高能譜特征允許相的快速鑒定,即使直徑為2nm的小納米晶體周圍或幾百個原子。這些理論和實驗為液體分散的納米材料提供了簡單而準確的分析,可提高納米晶體工程的精度,并能提高對納米晶體反應的研究。
這項工作實現了準確實驗與前沿理論光譜的緊密結合,是現代納米尺度研究的展示。為光學晶體學分析技術提供了一種新的強大的能力,通過吸收光譜法在溶液中的合成或加工過程中連續測量相位,可以更簡單、快速、高通量并且可能比較采用固相X射線技術更能準確地進行結構表征。
資料來源:中國材料網
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